從原料源頭把控產品品質
良好的性能來自一絲不茍的執著15000622093
接下來,我們為您帶來關于ICP-AES在面對各種干擾的解決方法。
1、影響等離子體溫度的因素有:
?、佥d氣流量:流量增大,中心部位溫度下降;
?、谳d氣的壓力:激發溫度隨載氣壓力的降低而增加;
?、垲l率和輸入功率:激發溫度隨功率增大而增高,近似線性關系,在其他條件相同時,增加頻率,放電溫度降低;
?、艿谌氐挠绊懀阂氲碗婋x電位的釋放劑的等離子體,電子溫度將增加。
2、電離干擾的消除和抑制:
原子在火焰或等離子體的蒸氣相中電離而產生的干擾。它使火焰中分析元素的中性原子數減少,因而降低分析信號。在標準和分析試樣中加入過量的易電離元素,使火焰或等離子體中的自由電子濃度穩定在相當高的水平上,從而抑制或消除分析元素的電離。此外,由于溫度愈高,電離度愈大,因此,降低溫度也可減少電離干擾。
3、試劑酸度對ICP-AES法的干擾效應主要表現在哪些方面?
提升率及其中元素的譜線強度均低于水溶液;隨著酸度增加,譜線強度顯著降低;各種無機酸的影響并不相同,按下列順序遞增:HCl HNO3 HClO4 H3PO4 H2SO4;譜線強度的變化與提升率的變化成正比例。所以在ICP測試中,應盡量的避免使用H3PO4 H2SO4作為介質進行狹縫校正。
4、ICP-AES法中的光譜干擾主要存在的類型:
譜線干擾;譜帶系對分析譜線的干擾;連續背景對分析譜線的干擾;雜散光引起的干擾;基體干擾;抑制干擾等。對于譜線干擾,一般選擇更換譜線,連續背景干擾一般用儀器自帶的扣背景的方法消除,基體干擾一般基體區配或標準加入法,抑制干擾一般是分離或基體區配。
5、ICP-AES法分析中靈敏度漂移的校正:
在測定過程中,氣體壓力改變會影響到原子化效率和基態原子的分布;另外,毛細管阻塞、廢液排泄不暢,會使溶液提升量和霧化效率受到影響;以及電壓變化甚至環境溫度等諸多因素都會使靈敏度發生漂移,其校正方法可每測10個樣品加測一個與樣品組成接近的質控樣,并根據所用儀器的新舊程度適當縮短標準化的時間間隔。
6、ICP分析中如何避免樣品間的互相沾污?
測量時,不要依次測量濃度懸殊很大的樣品,可把濃度相近的樣品放在一起測定,測定樣品之間,應用蒸餾水沖洗,進標準樣品測試標準曲線時,應該從低標到高標儀次進樣。
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